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JTAG
JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于测试访问端口，使用边界扫描的方法来测试印刷电路板。
1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。
在设计印刷电路版时, 目前最主要用在测试集成电路的副区块，而且也提供一个在嵌入式系统很有用的除错机制，提供一个在系统中方便的"后门"。当使用一些除错工具像电路内模拟器用JTAG当做讯号传输的机制，使得程式设计师可以经由JTAG去读取整合在CPU上的除错模组。除错模组可以让程式设计师除错嵌入式系统中的软件 。
JTAG的接口是一种特殊的4/5个接脚接口连到芯片上 ，所以在电路版上的很多芯片可以将他们的JTAG接脚通过Daisy Chain的方式连在一起，并且Probe只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块电路板上的所有IC。这些连接引脚是：
TDI （测试数据输入）
TDO （测试数据输出）
TCK （测试时钟）
TMS （测试模式选择）
TRST（测试复位）可选。
因为只有一条数据线，通信协议有必要像串行设备接口，SPI一样为Serial Comm.。时钟由TCK引脚输入。配置是通过TMS引脚采用状态机的形式一次操作一位来实现的。每一位数据在每个TCK时钟脉冲下分别由TDI和TDO引脚传入或传出。可以通过加载不同的命令模式来读取芯片的标识，对输入引脚采样，驱动（或悬空）输出引脚，操控芯片功能，或者旁路（将TDI与TDO连通以在逻辑上短接多个芯片的链路）。TCK的工作频率依芯片的不同而不同，但其通常工作在10-100MHz（每位10-100ns）。
当在集成电路中进行边界扫描时，被处理的信号是在同一块IC的不同功能模块间的，而不是不同IC之间的。
TRST引脚是一个可选的相对待测逻辑低电平有效的复位开关——通常是异步的，但有时也是同步的，依芯片而定。如果该引脚没有定义，则待测逻辑可由同步时钟输入复位指令而复位。
尽管如此，极少消费类产品提供外部的JTAG端口接口，但作为开发样品的残留，这些接口在印刷电路板上十分常见。在研发后，这些接口常常为反向工程提供了非常良好的途径。
关于制造商的扩展: 英飞凌, MIPS EJTAG, 飞思卡尔 COP, ARM ETM (Extended Trace Macrocell), OnCE etc.
几乎所有的 嵌入式系统 都具有JTAG端口[来源请求]。
PCI 总线接口包含JTAG引脚。一种特殊的JTAG卡可以用来刷新被破坏了的BIOS。
可以通过使用一些支持JTAG的应用程序来访问JTAG 接口。
