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ATE
ATE是Automatic Test Equipment的缩写, 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机, 用于检测集成电路功能之完整性, 为集成电路生产制造之最后流程, 以确保集成电路生产制造之品质.
在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件 (DUT)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。
在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品，防止进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光，电，波，力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要考虑的最多的，还是电子部分的参数比如，时间，相位，电压电流，等等基本的物理参数。就是电子学所说的，信号处理。此外，比如LCD ，PDP（等离子显示器）需要对发光部分功能进行试验，那么，就要对光学相关的参量测量了。
通盘而论，两大部类，〔1〕核心测试构造：承袭于传统的测试技术，检测技术，自动的实施信号处理（电子信号测量）。针对不同的DUT的测试提案不同，核心测试构造也会有所不同。〔2〕计算机控制构造：处理的速度和能力，取决于当时的计算机能力。计算机技术事实上已经变成了通用技术了，对于一套ATE来说，高指标的计算机不见得是最好的计算机，满足系统的需要，协调才是最好的标准。事实上，复杂的ATE设备的价格，相对于先进的高指标的服务器价格来说，相当于巨人根侏儒的婴儿的关系了。 总体上来说，计算机技术的作用，控制系统的协调，控制信号的注入路径，控制数据的采集和处理，等等。换句话说，计算机对系统的硬件，软件的管理是双管齐下的---既当爹，又当妈，吃喝拉撒都要管。所以，通用计算机已经不太适合了，于是，历史上便产生了FA计算机技术。但是，这还是满足不了，高速，大量的要求，于是，专家们干脆打破了计算机的传统结构，甚至，制造出了专用的CPU，专用的ChipSet。这一切不过是在反复的印证一个简单的道理，是生产的需要牵引着技术的进步。
【信号源指针】
漏电（Leakage），接触（Contact)，直流（DC），交流（AC），函数（Function），模式（Pattern）
【信号通路】
PE
I/O
MX
【回读测试】
Measurement
【数模信号】
ADC, DAC
【专用计算机】
DMA
Port P/S
Chipset
【伺服构造】
Diagnostic
Calibration
当今，ATE广泛地应用于半导体工艺流程的若干工序环节。在不远的将来，会瞄准量子机械（MEMS-Micro Electronic Mechanic System）的广大领域。激励和回读信号的种类的外延也会从以目前的电量为主，飞跃性的扩充到光学参量，流体（包括气体和液体）参量，位移参量等等能够在装置内部演算的各种参量，可以是量子化了的参数，或者就是自然变量的本身（模拟参量）。
