SEU

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·防范措施

单粒子翻转SEU（Single-Event Upsets）是宇宙中单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态翻转的现象。

单粒子翻转最容易发生SEU的是像RAM这种利用双稳态进行存储的器件，其次是CPU，再其次是其它的接口电路。随着芯片集成度的增加，发生SEU错误的可能性也随之增大。

在一些电磁、辐射环境比较恶劣的情况下，大规模集成电路（IC）常常会受到干扰，例如宇宙中单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态翻转：原来存储的"0"变为"1"，或者"1"变为"0"，从而导致系统功能紊乱，严重时会发生灾难性事故。SEU造成的逻辑错误不是永久性的。在特定的应用中，SEU已经成为一个不能忽视的问题。

典型的SEU是由于太空中高能粒子的轰击造成的，SEU已经成为星载计算机中最常见的错误。

降低单粒子翻转效应发生概率的一个措施是增加冗余度，NASA（美国国家航空航天局）在航天器计算机系统中就采用这一措施。